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Axometrics | 穆勒矩阵偏振仪
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专注于高精度偏振仪与椭圆仪的研发、生产与系统集成
全面支持 完整穆勒矩阵 测量，涵盖所有偏振特性
提供从单点到成像、从桌面到大型/在线的全系列光学测量系统
广泛应用于 LCD/OLED、偏光片、光学薄膜与 AR/VR 显示行业
软件能力强大，可解析液晶材料的三维几何与复杂光学行为
拥有业内领先的可调光源与校准标准，实现长期稳定测量
服务覆盖科研、质量控制与量产流程，为客户提供完整光学测试方案
产品型号
| 产品名称 | 型号 | 货期 | 单价 |
|---|---|---|---|
| AxoScan™ 单点穆勒矩阵偏振仪 | AxoScan | 请联系我们 | 请联系我们 |
| AxoStep™ 成像穆勒矩阵偏振仪 | AxoStep | 请联系我们 | 请联系我们 |
| EllipsoStep™ 成像椭圆仪 | EllipsoStep | 请联系我们 | 请联系我们 |
| Axometrics 其他硬件 | Axometrics | 请联系我们 | 请联系我们 |
产品说明
Axometrics 产品
| Polarimeters & Ellipsometers | AxoScan™ | AxoStep |
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Polarimeters & Ellipsometers
偏光仪与椭圆仪
核心特性：
所有 Axometrics 偏振仪均可测量样品的 完整穆勒矩阵（Full Mueller Matrix）。
穆勒矩阵包含样品的全部偏振性质，可覆盖非常广的应用范围。
椭圆仪系统测量的是简化后的偏振参数，用于薄膜与材料折射率测量。
AxoScan™（Axo 扫描™）
高速单点穆勒矩阵偏振仪
用于通用偏振性质测试
或用于几乎任意材料的广义椭偏测量（Generalized Ellipsometry）
AxoStep™
成像穆勒矩阵偏振仪
在图像的每一个像素点测量全部偏振特性
适用于器件均匀性、材料空间变化检测
EllipsoStep™（椭圆步™）
成像椭圆仪
在整个图像范围测量薄膜厚度、光学常数
用于大面积薄膜与器件的二维椭偏成像
大型与在线测量系统（Large & Inline Measurement Systems）
适用于尺寸过大、无法使用桌面夹具的样品；可在实验室或工厂生产线使用，支持洁净室环境。
| Polarizer & Retarder Film Measurement | Large & Inline LCD Panel Measurement | Large / Inline Ellipsometry Systems |
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Polarizer & Retarder Film Measurement
偏光片/延迟片测量系统
支持大尺寸切片、卷材横幅（cross-web）检测
或在线监测偏振片、相位延迟片的所有偏振参数
Large & Inline LCD Panel Measurement
大型/在线液晶面板测量
离线 LCD 面板 MUELLER 矩阵与偏振参数测量
在线 LCD 母玻璃自动测试系统
Large / Inline Ellipsometry Systems
大型/在线椭偏系统
用于 LCD / OLED / 太阳能基板
大面积薄膜厚度测量
光源（Light Sources）
为偏振测量系统优化设计，包括可调谐光源与固定波长光源。
| TVS-2 | LED-1 |
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TVS-2
可调谐可见光源
波长范围：400–980 nm
LED-1
超稳定 LED 光源
适用于长期稳定性要求高的偏振与椭偏测量
校准标准（Calibration Standards）
高稳定度校准标准用于验证和调整测量系统的准确性。
| Polarization Reference Standards | Wavelength Verification | Thin-Film Test Standards |
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Polarization Reference Standards
偏振参考标准
滞速片（Retarders）
偏光片（Polarizers）
圆偏振片（Circular Polarizers）
Wavelength Verification
波长验证滤光片
用于可调谐光源的波长校准
常见材料如 氧化钬（Holmium Oxide） 滤光片
Thin-Film Test Standards
薄膜厚度标准
用于椭偏仪薄膜厚度测量的标准片
软件（Software）
Axometrics 提供多用途的软件工具包，覆盖从基础分析到液晶材料三维结构求解的完整范围。
| Standard Software | Application-Specific Software |
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Standard Software 标准软件
每套系统附带
用于计算与展示基础偏振参量
清晰易用的报告界面
Application-Specific Software
应用专用软件
针对特定行业的偏振分析问题开发
包含液晶面板生产中的三维取向建模
也覆盖光学薄膜、偏振片、AR/VR 光学等行业
应用领域（Applications）
LCD Panel Testing
液晶面板测试
Polarizers, Retarders & Optical Films
偏光片、延迟片、光学薄膜检测
Birefringence Testing
双折射测量
LCOS Panels
LCOS 面板测量
Anisotropic Thin Films
各向异性薄膜材料
请随时与我们联系，了解更多关于产品的信息、介绍前的流程、价格和报价细节。我们的团队将为您提供专业的建议和支持，确保您能够根据您的需求选择最合适的方案。如果您有任何疑问或需要个性化的服务，欢迎通过电话或电子邮件与我们联系，我们将尽快回复并为您提供所需的帮助。
